Интеллектуальная интегрированная испытательная система серии STAr Sagittarius

9 августа 2024 г., 11:00 по восточному времени

Поделитесь этой статьей

СИНЧУ (HSINCHU), 9 августа 2024 г. /PRNewswire/ -- Серия STAr Sagittarius, выпущенная в 2001 году, представляет собой интеллектуальное программное обеспечение для параметрических испытаний и испытаний на надёжность полупроводников, позволяющее интегрировать измерения вольт-емкости (CV) и вольт-амперных характеристик (IV) на одной платформе. В связи с расширением сферы применения электроники система Sagittarius непрерывно совершенствовалась в течение последних 20 лет, удовлетворяя потребности отрасли в измерениях. В настоящее время более 3000 её экземпляров установлены на литейных заводах, в конструкторских бюро и в компаниях, занимающихся разработкой инновационных решений.

Sagittarius Series — это программное обеспечение для параметрического тестирования и характеризации полупроводниковых приборов на базе Windows™, которое легко интегрируется в большинство настольных приборов и зондовых станций. Это программное обеспечение также представляет собой комплексный инструмент, ускоряющий процесс измерений. Его графическая конфигурация и интуитивно понятные тестовые последовательности позволяют пользователям легко настраивать испытательную систему с неограниченным количеством матриц или мультиплексоров, а также испытательными ресурсами, такими как SMU и CMU, перетаскивая их всего несколькими щелчками мыши.

Более того, интеллектуальная испытательная система серии Sagittarius работает в режиме «ведущий-ведомый» и управляет до 32 ведомыми устройствами через интернет-соединение. Все режимы тестирования, такие как управление, сохранение дополнительных этапов работы, настройка теста и файлы данных тестирования, централизованно управляются ведущим устройством, которое может просматривать и собирать последние обновления состояния всех ведомых устройств. Благодаря полной автоматизации работы с несколькими пластинами, сбору большого количества статистических данных и встроенным алгоритмам/библиотекам, системы серии Sagittarius обеспечивают точные и надежные результаты измерений для GaN-, SiC-, МОП-транзисторов, СВЧ-микросхем, СВЧ-транзисторов, кремниевых фотонных устройств, Si/GaAs-микросхем, плоских фотоприемных устройств (FPD), КМОП-устройств и т. д.

Серия семейства STAr Sagittarius включает: интеллектуальную испытательную и измерительную систему Sagittarius-TMS; систему радиочастотных измерений Sagittarius-RMS; интерактивный кривоизмерительный прибор Sagittarius-ICT; систему испытаний кремниевой фотоники Sagittarius-SPT; систему испытаний надежности на уровне пластин Sagittarius-WLR; систему многотестового режима Sagittarius-MTM; расширенный тестер памяти Sagittarius-AMT.

Для получения более подробной информации о продукте свяжитесь с торговыми представителями STAr или напишите в STAr по адресу URL.

ИСТОЧНИК STAr Technologies, Inc.